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dc.contributor.author陳三元en_US
dc.contributor.author孫嘉良en_US
dc.contributor.author荊鳳德en_US
dc.date.accessioned2014-12-16T06:17:29Z-
dc.date.available2014-12-16T06:17:29Z-
dc.date.issued2003-09-21en_US
dc.identifier.govdocH01L027/13zh_TW
dc.identifier.govdocH01L027/13zh_TW
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/106457-
dc.description.abstract本案係指一種鐵電場效電晶體製造方法,其係應用於金屬/鐵電薄膜/絕緣層/半導體(MFIS)結構的閘極電容元件製作上,該方法乃藉由在該絕緣層上沈積一鉍系鐵電薄膜,並經由一高溫熱處理後,再鍍上一上電極層於該鉍系鐵電薄膜上,俾得致該鐵電場效電晶體結構。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.title鐵電場效電晶體製造方法zh_TW
dc.typePatentsen_US
dc.citation.patentcountryTWNzh_TW
dc.citation.patentnumber00554524zh_TW
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  1. 00554524.pdf

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