統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Design of charge pump circuit with consideration of gate-oxide reliability in low-voltage CMOS processes | 173 |
本月總瀏覽
| 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | 一月 2026 | 二月 2026 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Design of charge pump circuit with consideration of gate-oxide reliability in low-voltage CMOS processes | 0 | 2 | 0 | 0 | 1 | 1 | 0 |
檔案下載
| 檢視 | |
|---|---|
| 000237210500011.pdf | 58 |
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 108 |
| 美國 | 31 |
| 日本 | 6 |
| 南韓 | 5 |
| 愛爾蘭 | 4 |
| 印度 | 4 |
| 台灣 | 4 |
| 土耳其 | 3 |
| 英國 | 2 |
| 加拿大 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 96 |
| Menlo Park | 13 |
| Beijing | 9 |
| Kensington | 5 |
| Tokyo | 5 |
| Seattle | 4 |
| Taipei | 4 |
| Corvallis | 2 |
| Austin | 1 |
| Bangalore | 1 |