統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Random-work-function-induced characteristic fluctuation in 16-nm-gate bulk and SOI FinFETs | 15 |
本月總瀏覽
| 六月 2025 | 七月 2025 | 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Random-work-function-induced characteristic fluctuation in 16-nm-gate bulk and SOI FinFETs | 0 | 1 | 0 | 2 | 2 | 1 | 0 |
檔案下載
| 檢視 |
|---|
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 美國 | 6 |
| 愛爾蘭 | 2 |
| 台灣 | 2 |
| 巴西 | 1 |
| 以色列 | 1 |
| 日本 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Menlo Park | 6 |
| Taipei | 1 |