統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Impact of STI on the reliability of narrow-width pMOSFETs with advanced ALD N/O gate stack | 115 |
本月總瀏覽
| 六月 2024 | 七月 2024 | 八月 2024 | 九月 2024 | 十月 2024 | 十一月 2024 | 十二月 2024 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Impact of STI on the reliability of narrow-width pMOSFETs with advanced ALD N/O gate stack | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 |
檔案下載
| 檢視 | |
|---|---|
| 000236944800014.pdf | 51 |
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 95 |
| 美國 | 18 |
| 台灣 | 2 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 93 |
| Menlo Park | 9 |
| Kensington | 6 |
| Edmond | 3 |
| Beijing | 1 |
| Shanghai | 1 |
| Taichung | 1 |
| Taipei | 1 |