微壓印痕檢測於探針卡精細探針之機械特性量測方式開發研究

標題:	微壓印痕檢測於探針卡精細探針之機械特性量測方式開發研究 Study of miniature probe characteristics of probe card by micro imprint detection
作者:	林燊一 Lin, Shen-Yi 鄭泗東 Cheng, Stone 工學院精密與自動化工程學程
關鍵字:	探針卡;探針;探針壓痕;機械視覺;檢測;probe card;probe;probe mark,;computer vision,;detection
公開日期:	2015
URI:	http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#GT079769517 http://hdl.handle.net/11536/126312
顯示於類別：	畢業論文