標題: 半導體元件製造方法
作者: 劉柏村
鄧立峯
羅婉柔
李耀仁
公開日期: 11-十一月-2015
摘要: 一種使用微波退火程序的半導體元件製造方法,用以增強一半導體元件之效能,該製造方法至少包含下列步驟:形成一閘極層於一基板上;形成一閘極絕緣層於該閘極層上;形成一主動層於該閘極絕緣層上,且該主動層係由一微波吸收材料所組成,其中該微波吸收材料係由一金屬氧化物、一金屬氮化物以及一金屬氮氧化物群組中所選出;定義一源/汲極於該主動層上,以形成該半導體元件;以及進行一微波退火程序。
官方說明文件#: H01L021/336
H01L021/28
URI: http://hdl.handle.net/11536/128802
專利國: TWN
專利號碼: I508191
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