标题: 半导体-绝缘体-半导体(SIS)异质接面结构应用于光检测器制备之研究
A Study of Semiconductor-Insulator-Semiconductor (SIS) Heterojunction Structure Applied to the Fabrication of Photodetectors
作者: 谢宗雍
HSIEH TSUNG-EONG
国立交通大学材料科学与工程学系(所)
公开日期: 2015
官方说明文件#: MOST104-2221-E009-034-MY3
URI: http://hdl.handle.net/11536/129987
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=11586381&docId=472785
显示于类别:Research Plans