低維度硫族合金之電遷移與擴散行為研究

標題:	低維度硫族合金之電遷移與擴散行為研究 A Study of Electromigration and Diffusion Behaviors of Low-Dimensional Chalcogenides
作者:	謝宗雍 HSIEH TSUNG-EONG 國立交通大學材料科學與工程學系（所）
公開日期:	2015
官方說明文件#:	MOST103-2221-E009-057-MY2
URI:	http://hdl.handle.net/11536/130478 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=11269234&docId=454691
顯示於類別：	研究計畫