標題: 從環繞於IC設計與製造資料所發展的智慧製造設計自動化研究-子計畫五:資料分析平台用於以晶片偵測器為依據之速度分級
Data-Analytic Platform for Speed Binning Using On-Chip Monitors
作者: 趙家佐 
國立交通大學電子工程學系及電子研究所 
關鍵字:  ; 
公開日期: 2016
摘要:  
 
官方說明文件#: MOST105-2221-E009-182-MY3 
URI: https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=11876228&docId=484497
http://hdl.handle.net/11536/131785
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