標題: 關鍵新穎技術大氣電漿沉積高品質薄膜鎵鋅氧化物開發及其高可靠度平面顯 示器薄膜電晶體之製作(II)
Developement of High Quality Gzo Thin Films Deposited by Novel Appecvd System and Fabrication of High-Reliability Gzo Tft(Ii)(Iii)
作者: 張國明 
國立交通大學電子工程學系及電子研究所 
關鍵字:  ; 
公開日期: 2016
摘要:  
 
官方說明文件#: MOST105-2221-E009-150 
URI: https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=11903922&docId=492321
http://hdl.handle.net/11536/131972
顯示於類別:研究計畫