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dc.contributor.author簡昭欣en_US
dc.contributor.author潘正聖en_US
dc.contributor.author周承翰en_US
dc.date.accessioned2016-12-20T05:04:27Z-
dc.date.available2016-12-20T05:04:27Z-
dc.date.issued2016-10-01en_US
dc.identifier.govdocH01L021/336zh_TW
dc.identifier.govdocH01L029/41zh_TW
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/132310-
dc.description.abstract本揭露係關於一些半導體裝置及其製造方法。在一實施例中,一半導體裝置及其製造方法包括圖案化一基底,使基底具有一第一區域以及延伸自基底的第一區域的一第二區域。沉積一隔離層於基底的第一區域的一表面上,以及磊晶形成一源極/汲極區域,其中源極/汲極區域位於隔離區上且鄰接基底的第二區域的數個側壁。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.title半導體裝置及其製造方法zh_TW
dc.typePatentsen_US
dc.citation.patentcountryTWNzh_TW
dc.citation.patentnumber201635390zh_TW
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  1. 201635390.pdf

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