統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Reliability study of high-k La2O3/HfO2 and HfO2/La2O3 stacking layers on n-In0.53Ga0.47As metal-oxide-semiconductor capacitor | 9 |
本月總瀏覽
| 六月 2025 | 七月 2025 | 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Reliability study of high-k La2O3/HfO2 and HfO2/La2O3 stacking layers on n-In0.53Ga0.47As metal-oxide-semiconductor capacitor | 0 | 0 | 0 | 0 | 1 | 5 | 2 |
檔案下載
| 檢視 |
|---|
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 美國 | 6 |
| 巴西 | 1 |
| 中國 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Ashburn | 2 |
| San Diego | 2 |
| Buffalo | 1 |
| Los Angeles | 1 |
| Shenzhen | 1 |