統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Investigation of Hot Carrier Reliability of Ultrathin Poly-Si Nanobelt Junctionless (UTNB-JL) Transistors on Different Underlying Insulators | 3 |
本月總瀏覽
檔案下載
| 檢視 |
|---|
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 俄羅斯聯邦 | 1 |
| 台灣 | 1 |
| 美國 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Menlo Park | 1 |
| 檢視 | |
|---|---|
| Investigation of Hot Carrier Reliability of Ultrathin Poly-Si Nanobelt Junctionless (UTNB-JL) Transistors on Different Underlying Insulators | 3 |
| 檢視 |
|---|
| 檢視 | |
|---|---|
| 俄羅斯聯邦 | 1 |
| 台灣 | 1 |
| 美國 | 1 |
| 檢視 | |
|---|---|
| Menlo Park | 1 |