應用基因演算法與支持向量機之特徵值篩選於建立液晶面板自動化光學檢測分類模型

標題:	應用基因演算法與支持向量機之特徵值篩選於建立液晶面板自動化光學檢測分類模型 Applying GA and SVM on Features Selection to Constructing LCD Panels Classification Model based on Automatic Optical Inspection
作者:	曾豊庭張永佳 Tseng, Li-Ting Chang, Yung-Chia 工業工程與管理系所
關鍵字:	自動化光學檢測;機器學習;影像處理;特徵值篩選;基因演算法;Automatic Optical Inspection (AOI);Machine Learning;Image Processing;Feature Selection;Genetic Algorithm (GA)
公開日期:	2016
URI:	http://etd.lib.nctu.edu.tw/cdrfb3/record/nctu/#GT070353314 http://hdl.handle.net/11536/139157
顯示於類別：	畢業論文