具雙低電位與全時段抗雜訊 高信賴度閘極驅動陣列之研究

標題:	具雙低電位與全時段抗雜訊高信賴度閘極驅動陣列之研究 Study on High Reliability Gate Driver on Array With Dual Low Voltage Levels and Full Time Noise Free
作者:	黃昱愷劉柏村 Huang,Yu-Kai Liu,po-tsun 光電工程研究所
關鍵字:	閘極驅動陣列;雙低電位;全時段抗雜訊;多晶矽;負偏壓;閥値電壓回復;GOA;dual low voltages;full-time noise-free;a-Si:H;negative bias;Vth recovering
公開日期:	2017
URI:	http://etd.lib.nctu.edu.tw/cdrfb3/record/nctu/#GT070350555 http://hdl.handle.net/11536/140682
顯示於類別：	畢業論文