統計資料

總造訪次數

檢視
Suppression of the boron penetration induced dielectric degradation by using a stacked-amorphous-silicon film as the gate structure for pMOSFET 104

本月總瀏覽

檔案下載

檢視
A1996TU66500016.pdf 4

國家瀏覽排行

檢視
中國 95
美國 9

縣市瀏覽排行

檢視
Shenzhen 94
Menlo Park 6
Kensington 3
Beijing 1