統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Constructing a yield model for integrated circuits based on a novel fuzzy variable of clustered defect pattern | 114 |
本月總瀏覽
| 六月 2025 | 七月 2025 | 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Constructing a yield model for integrated circuits based on a novel fuzzy variable of clustered defect pattern | 0 | 0 | 0 | 0 | 3 | 1 | 0 |
檔案下載
| 檢視 | |
|---|---|
| 000297823300066.pdf | 12 |
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 96 |
| 美國 | 11 |
| 加拿大 | 3 |
| 澳大利亞 | 1 |
| 愛爾蘭 | 1 |
| 台灣 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 94 |
| Kensington | 6 |
| Menlo Park | 5 |
| Ottawa | 3 |
| Beijing | 1 |
| Maleny | 1 |
| Shanghai | 1 |
| Taipei | 1 |