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dc.contributor.author陳巍仁zh_TW
dc.contributor.author郭柏毅zh_TW
dc.date.accessioned2019-04-11T06:05:19Z-
dc.date.available2019-04-11T06:05:19Z-
dc.date.issued2017-12-16en_US
dc.identifier.govdocG01R029/26en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/151410-
dc.description.abstract一種相位雜訊量測電路,其是利用數位相位轉換器產生N個相位時脈訊號,並選擇N個相位時脈訊號其中之一,與待量測之一震盪訊號相比較,再透過積分器與比較器之處理,以產生一相位雜訊訊號。其中N個相位時脈訊號彼此間具有相同之頻率但不同之相位,而相位雜訊訊號為震盪訊號中相位雜訊經量化後之一數位訊號,且數位訊號包含雜訊頻譜成分以及雜訊功率大小,以供後續量測。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.title相位雜訊量測電路zh_TW
dc.typePatentsen_US
dc.citation.patentcountryTWNen_US
dc.citation.patentnumber201743066en_US
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