統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| CHARACTERIZATION OF A HIGH-QUALITY AND UV-TRANSPARENT PECVD SILICON-NITRIDE FILM FOR NONVOLATILE MEMORY APPLICATIONS | 98 |
本月總瀏覽
| 六月 2025 | 七月 2025 | 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| CHARACTERIZATION OF A HIGH-QUALITY AND UV-TRANSPARENT PECVD SILICON-NITRIDE FILM FOR NONVOLATILE MEMORY APPLICATIONS | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 |
檔案下載
| 檢視 | |
|---|---|
| A1994BB55A00030.pdf | 29 |
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 88 |
| 美國 | 9 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 88 |
| Menlo Park | 7 |
| Kensington | 2 |