統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Abnormal sub-threshold swing degradation under dynamic hot carrier stress in HfO2/TiN n-channel metal-oxide-semiconductor field-effect-transistors | 125 |
本月總瀏覽
| 六月 2025 | 七月 2025 | 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Abnormal sub-threshold swing degradation under dynamic hot carrier stress in HfO2/TiN n-channel metal-oxide-semiconductor field-effect-transistors | 0 | 0 | 1 | 1 | 0 | 1 | 1 |
檔案下載
| 檢視 | |
|---|---|
| 000321761000038.pdf | 21 |
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 96 |
| 美國 | 20 |
| 台灣 | 3 |
| 愛爾蘭 | 2 |
| 巴西 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 95 |
| Menlo Park | 10 |
| Kensington | 7 |
| Taipei | 3 |
| Beijing | 1 |
| Buffalo | 1 |
| Dearborn | 1 |
| Edmond | 1 |