統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Anomalous Gate Current Hump after Dynamic Negative Bias Stress and Negative-Bias Temperature-Instability in p-MOSFETs with HfxZr1-xO2 and HfO2/Metal Gate Stacks | 115 |
本月總瀏覽
| 六月 2025 | 七月 2025 | 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Anomalous Gate Current Hump after Dynamic Negative Bias Stress and Negative-Bias Temperature-Instability in p-MOSFETs with HfxZr1-xO2 and HfO2/Metal Gate Stacks | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 |
檔案下載
| 檢視 | |
|---|---|
| 000325681300013.pdf | 7 |
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 97 |
| 美國 | 14 |
| 智利 | 1 |
| 台灣 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 96 |
| Kensington | 6 |
| Menlo Park | 6 |
| Beijing | 1 |
| Edmond | 1 |
| Santiago | 1 |
| Taipei | 1 |
| University Park | 1 |