統計資料

總造訪次數

檢視
Low Current Collapse and Low Leakage GaN MIS-HEMT Using AlN/SiN as Gate Dielectric and Passivation Layer 116

本月總瀏覽

六月 2024 七月 2024 八月 2024 九月 2024 十月 2024 十一月 2024 十二月 2024
Low Current Collapse and Low Leakage GaN MIS-HEMT Using AlN/SiN as Gate Dielectric and Passivation Layer 0 0 0 0 0 0 1

檔案下載

檢視
000338846600027.pdf 83

國家瀏覽排行

檢視
中國 95
美國 15
台灣 5
印度 1

縣市瀏覽排行

檢視
Shenzhen 95
Menlo Park 7
Kensington 6
Taipei 3
Edmond 1
Kirksville 1
Mumbai 1