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| Effect of Low Temperature Ge Seed Layer and Post Thermal Annealing on Quality of Ge1-xSix (0.05 <= x <= 0.1) Graded Buffer Layers by UHV-CVD | 111 |
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| Effect of Low Temperature Ge Seed Layer and Post Thermal Annealing on Quality of Ge1-xSix (0.05 <= x <= 0.1) Graded Buffer Layers by UHV-CVD | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 2 | 0 |
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