統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Effect of Zr/Ti ratios on characterization of Pb(ZrxTi1-x)O-3 thin films on Al2O3 buffered Si for one-transistor memory applications | 96 |
本月總瀏覽
| 六月 2025 | 七月 2025 | 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Effect of Zr/Ti ratios on characterization of Pb(ZrxTi1-x)O-3 thin films on Al2O3 buffered Si for one-transistor memory applications | 0 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 |
檔案下載
| 檢視 | |
|---|---|
| 000181093600061.pdf | 13 |
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 90 |
| 美國 | 6 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 89 |
| Menlo Park | 3 |
| Beijing | 1 |
| Edmond | 1 |
| Kirksville | 1 |