統計資料

總造訪次數

檢視
Barrier layer effect of tantalum on the electromigration in sputtered copper films on hydrogen silsesguioxane and Si0(2) 101

本月總瀏覽

檔案下載

檢視
000175804600026.pdf 19

國家瀏覽排行

檢視
中國 96
印度 3
澳大利亞 1
美國 1

縣市瀏覽排行

檢視
Shenzhen 93
Beijing 1
Kalyan 1
Shanghai 1
University Park 1
Zhengzhou 1