統計資料
總造訪次數
| 檢視 | |
|---|---|
| Differential capacitance measurements of relaxation-induced defects in InGaAs/GaAs Schottky diodes | 117 |
本月總瀏覽
| 六月 2025 | 七月 2025 | 八月 2025 | 九月 2025 | 十月 2025 | 十一月 2025 | 十二月 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Differential capacitance measurements of relaxation-induced defects in InGaAs/GaAs Schottky diodes | 0 | 0 | 0 | 0 | 2 | 1 | 0 |
檔案下載
| 檢視 | |
|---|---|
| 000167017400004.pdf | 25 |
國家瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| 中國 | 95 |
| 美國 | 17 |
| 台灣 | 2 |
| 澳大利亞 | 1 |
縣市瀏覽排行
| 檢視 | |
|---|---|
| Shenzhen | 95 |
| Menlo Park | 11 |
| Kensington | 3 |
| Edmond | 2 |
| Saint Robert | 1 |