統計資料

總造訪次數

檢視
Characterization and reliability of lightly-doped-drain polysilicon thin-film transistors with oxide sidewall spacer formed by one-step selective liquid phase deposition 106

本月總瀏覽

檔案下載

檢視
000090139000008.pdf 5

國家瀏覽排行

檢視
中國 96
美國 7
台灣 3

縣市瀏覽排行

檢視
Shenzhen 94
Menlo Park 3
Edmond 2
Kensington 2
Hsinchu 1
Nanning 1
Taipei 1
Zhengzhou 1