統計資料

總造訪次數

檢視
Nanoscratch Characterization of GaN Epilayers on c- and a-Axis Sapphire Substrates 111

本月總瀏覽

八月 2025 九月 2025 十月 2025 十一月 2025 十二月 2025 一月 2026 二月 2026
Nanoscratch Characterization of GaN Epilayers on c- and a-Axis Sapphire Substrates 0 1 0 1 1 0 0

檔案下載

檢視
000283575800015.pdf 3

國家瀏覽排行

檢視
中國 97
美國 13

縣市瀏覽排行

檢視
Shenzhen 97
Menlo Park 8
Kensington 2
Buffalo 1
Dallas 1
Edmond 1