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DC 欄位 | 值 | 語言 |
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dc.contributor.author | 蔣宛倫 | en_US |
dc.contributor.author | 彭文理 | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-12T01:31:47Z | - |
dc.date.available | 2014-12-12T01:31:47Z | - |
dc.date.issued | 2008 | en_US |
dc.identifier.uri | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#GT079633532 | en_US |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/42887 | - |
dc.description.abstract | 製程能力指標被用來衡量製程製造產品符合規格的能力,不僅是提供品質保證的工具,也是在品質改善方面的一個方針。計算製程能力指標時,其前提假設需為製程參數是必須服從穩態的,但是在實務上製程為動態,也就是在生產過程中平均數和標準差會改變。當製程參數發生微小偏移時,有些管制圖無法立即偵測到,造成製程能力指標高估,因此必須將製程能力指標進行調整。Bothe (2002) 提出製程在平均數發生微小偏移的假設下,常態分配之製程能力調整方法。事實上,製程的變異數偏移在業界也時常出現,因此本研究將針對製程服從常態分配提出其製程能力調整方法。由於調整量的大小與管制圖檢定力息息相關,故本研究先探討在不同的標準差偏移量下,管制圖的檢定力。再導出在不同的ARL及樣本大小下應調整的偏移量,並針對常態適用的Cpk指標做調整。在本研究的最後,我們用一個實例來說明如何在製程參數服從常態分配並考慮製程標準差會發生變動的情況下,該如何調整製程能力指標Cpk。 | zh_TW |
dc.language.iso | en_US | en_US |
dc.subject | 常態分配 | zh_TW |
dc.subject | 卡方分配 | zh_TW |
dc.subject | 製程偏移 | zh_TW |
dc.subject | 製程能力指標 | zh_TW |
dc.subject | S^2管制圖 | zh_TW |
dc.subject | S管制圖 | zh_TW |
dc.subject | Variance change | en_US |
dc.subject | Process capability index | en_US |
dc.subject | Normal distribution | en_US |
dc.subject | Chi-square distribution | en_US |
dc.subject | S^2 control chart | en_US |
dc.subject | S control chart | en_US |
dc.subject | Dynamic Cpk | en_US |
dc.title | 考慮常態製程變異發生偏移下之製程能力調整 | zh_TW |
dc.title | Capability Adjustment for Normal Processes with Variance Change Consideration | en_US |
dc.type | Thesis | en_US |
dc.contributor.department | 工業工程與管理學系 | zh_TW |
顯示於類別: | 畢業論文 |