A NEW CRITERION FOR TRANSIENT LATCHUP ANALYSIS IN BULK CMOS

標題:	A NEW CRITERION FOR TRANSIENT LATCHUP ANALYSIS IN BULK CMOS
作者:	YANG, YH WU, CY 交大名義發表電控工程研究所 National Chiao Tung University Institute of Electrical and Control Engineering
公開日期:	1-七月-1989
URI:	http://dx.doi.org/10.1109/16.30939 http://hdl.handle.net/11536/4338
ISSN:	0018-9383
DOI:	10.1109/16.30939
期刊:	IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
Volume:	36
Issue:	7
起始頁:	1336
結束頁:	1347
顯示於類別：	期刊論文

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