標題: 第一階段剖面資料監控方法應用在工具磨損製程上之研究
Phase I Profile Monitoring for Tool Wearing
作者: 李和憲
Lee, He-Sian
洪志真
Horng Shiau, Jyh-Jen
統計學研究所
關鍵字: 剖面;工具磨損;一次剔除一點策略;profile;tool wearing;one at a time
公開日期: 2009
摘要: 在產品製造過程中,工具磨損之監控是一個非常重要的議題。由於機具設備持續運轉製造產品,工具逐漸產生磨損,此種磨損會導致製造出來的產品逐漸不符合規格。一般工具磨損監控的問題是從產品是否符合規格著手,找出更換工具的適當時機,而我們關心的是製造過程中是否有發生可歸屬原因,進而影響製程的穩定。此篇論文將第一階段剖面資料監控方法應用在工具磨損的問題上,期望能將歷史資料中有可歸屬原因的資料挑出並剔除,而得一組管制中之資料以估計正常工具磨損下的品質特性之趨勢函數,以供第二階段進行線上監控使用,進而維持製程的穩定。 本文假設工具磨損造成品質特性有線性趨勢,使用Stover and Brill (1988),Kang and Albin (2000), Kim et al. (2003), Mahmoud and Woodall (2004)所提出的第一階段剖面資料監控方法來監控工具磨損的製程。並且不光是使用失控訊號率來比較各方法的績效,也使用偵測力、假警報率,以及使用Jaccard (1908)所提出的 Jaccard 指標來合併偵測力與假警報率,避免使用眾多指標比較績效的困擾。此外,本文建議結合Shiau and Sun (2009)所提的OAAT (one-at-a-time)剔除策略,經過電腦模擬證實此策略可維持原有偵測力並擁有假警報率下降的優點。在此透過鋁蓋工具磨損資料與碳化鎢刀具壽命資料兩個例子來說明我們所提出的監控程序與剔 除策略。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#GT079726517
http://hdl.handle.net/11536/45248
顯示於類別:畢業論文


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