完整後設資料紀錄
| DC 欄位 | 值 | 語言 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 洪若宇 | en_US |
| dc.contributor.author | 何照義 | en_US |
| dc.date.accessioned | 2014-12-12T02:01:45Z | - |
| dc.date.available | 2014-12-12T02:01:45Z | - |
| dc.date.issued | 1980 | en_US |
| dc.identifier.uri | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT693457003 | en_US |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/51249 | - |
| dc.description.abstract | 現行的管制圖方法常假設品質特性資料呈現常態分配且互為獨立,而管制圖係數表就是在此條件下導出的。但是實務上製程品質的產出之間常存在某種程度的序列相關特性,若仍根據獨立假設所導出的方法來處理,則其結論是令人懷疑的。 本研究的目的就是放棄獨立假設以探討序列相關資料的管制圖方法之修正,並進一步比較修正前及修正後的方法對製程變異的偵測能力。在分析過程中,本研究假設序列相關資料呈現一階次的自我迴歸模式,然後利用此一模式針對又管制圖進行修正,並重新導出一套能反映不同序列相關係數的又管制圖係數表。 在比較製程變異的偵測能力方面,本研究利用蒙地卡羅的模擬方式,模擬各種不同序列相關係數之第一類錯誤及第二類錯誤,由此來比較製程辨認非機遇原因的能力,及製程偵測製程水準偏移的敏感度;藉以判斷修正後的又管制圖方法是否較能達到製程管制之目的。 | zh_TW |
| dc.language.iso | zh_TW | en_US |
| dc.subject | 序列 | zh_TW |
| dc.subject | X管制圖 | zh_TW |
| dc.title | 序列相關資料的X管制圖設計 | zh_TW |
| dc.type | Thesis | en_US |
| dc.contributor.department | 管理科學系所 | zh_TW |
| 顯示於類別: | 畢業論文 | |

