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dc.contributor.author黃明煌en_US
dc.contributor.authorHUANG, MING-HUANGen_US
dc.contributor.author陳茂傑en_US
dc.contributor.authorCHEN, MAO-JIEen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:03:07Z-
dc.date.available2014-12-12T02:03:07Z-
dc.date.issued1984en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT732430016en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/52066-
dc.description.abstract以波長10.6μm 之二氧化碳雷射間接加熱摻雜磷或無摻雜磷之複晶矽膜,使之熔解後 再結晶。雷射加熱之試樣結構為 SiO2(APCVD 或熱成長者)╱ LPCVD 複晶矽╱熱成長 SiO2/Si 基板。受雷射加熱而融化之部分具有較大之晶粒且有較平滑之表面。此外 ,雷射導致基板產生晶格缺陷,吾人可藉墊在LPCVD 複晶矽與Si 基板間之SiO2 厚度 設計為1/4 波長來防止此缺陷之形成。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject二氧化碳zh_TW
dc.subject雷射zh_TW
dc.subject複晶矽zh_TW
dc.subject再結晶zh_TW
dc.subjectzh_TW
dc.title以二氧化碳雷射處理複晶矽之再結晶zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department電子研究所zh_TW
顯示於類別:畢業論文