半導體雷射的外差偵測

Abstract

本文目的在探討利用半導體電射為光源做外差偵測之可行性，我們的方法是利用聲光 調制器及聲光偏向器來做頻率漂移，配合一個Mach-Zehnder干涉儀來取差頻訊號，利 用矽偵測器當接收器並利用頻譜分析儀來抓取訊號大小及雜訊大小，並以此求出功率 之雜訊比，以看出外差之現象。 文中，我們曾探討理想狀況及實際狀況之外差原理，以及各個所使用元作之基本原理 及我們對這些元作的測量結果，最後，我們詳述實驗結果以及提出一些工作經驗並探 討一些意外現象，還提出了如何改進這套系統以為應用時注意事項。