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dc.contributor.author林進華en_US
dc.contributor.authorLIN, JIN-HUAen_US
dc.contributor.author楊震聲en_US
dc.contributor.authorYANG, ZHENG-SHENGen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:03:28Z-
dc.date.available2014-12-12T02:03:28Z-
dc.date.issued1985en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT742123007en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/52304-
dc.description.abstract本文目的在探討利用半導體電射為光源做外差偵測之可行性,我們的方法是利用聲光 調制器及聲光偏向器來做頻率漂移,配合一個Mach-Zehnder干涉儀來取差頻訊號,利 用矽偵測器當接收器並利用頻譜分析儀來抓取訊號大小及雜訊大小,並以此求出功率 之雜訊比,以看出外差之現象。 文中,我們曾探討理想狀況及實際狀況之外差原理,以及各個所使用元作之基本原理 及我們對這些元作的測量結果,最後,我們詳述實驗結果以及提出一些工作經驗並探 討一些意外現象,還提出了如何改進這套系統以為應用時注意事項。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject半導體zh_TW
dc.subject半導體雷射zh_TW
dc.subject外差zh_TW
dc.subject偵測zh_TW
dc.subject外差偵測zh_TW
dc.subject聲光調制器zh_TW
dc.subject聲光偏向器zh_TW
dc.subject雷射zh_TW
dc.title半導體雷射的外差偵測zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department光電工程學系zh_TW
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