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dc.contributor.author陳志祥en_US
dc.contributor.authorXGWBM GU0ZUBFen_US
dc.contributor.author何照義en_US
dc.contributor.author戴久永en_US
dc.contributor.authorHE, ZHAO-YIen_US
dc.contributor.authorDAI, JIU-YONGen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:03:53Z-
dc.date.available2014-12-12T02:03:53Z-
dc.date.issued1985en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT742457069en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/52560-
dc.description.abstract本文以貝氏方法來尋求檢驗錯誤影響下的最佳計數值抽樣計劃。以Cuthrie-Johns 成 本模式的基本型式為基礎，而以計數值單次與雙次抽樣為主要研究的對象，分別在檢 驗錯誤存在以及沒有檢驗錯誤的情形下，尋求使總抽樣檢驗成本為最低之抽樣計劃。 此外單次與雙次抽樣計劃績效之比較，以及各成本參數變動對總成本的影響亦包涵於 研究的範圍之中。最後並依照研究的結果提出適當的建議，以供管理者的參考。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject貝氏方法zh_TW
dc.subject檢驗錯誤影響zh_TW
dc.subject計數值抽樣計劃zh_TW
dc.subject抽樣計劃zh_TW
dc.subject成本模式zh_TW
dc.subject成本參數zh_TW
dc.subject參數zh_TW
dc.subjectCUSHRIE-JOHNSen_US
dc.title檢驗錯誤影響下之計數值單次與雙次抽樣計劃之設計zh_TW
dc.titleThe design of attribute single and double sampling plans under inspectionerroren_US
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department管理科學系所zh_TW
顯示於類別：畢業論文


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