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dc.contributor.author彭瑞焜en_US
dc.contributor.authorPENG, RUI-KUNen_US
dc.contributor.author吳慶源en_US
dc.contributor.authorWU, GING-YUANen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:03:59Z-
dc.date.available2014-12-12T02:03:59Z-
dc.date.issued1985en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT742507018en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/52660-
dc.description.abstract本篇論文以數值方法分析金氧半場效電晶體(以下簡稱電晶體)的特性。本文將詳細 推導出半導體基本方程的有限差分方程式,並且將此方程式應用在電晶體上。這組有 限差分方程式包含非線性和線性的大型方程式。為了節省計算機的記憶空間,我們用 牛頓-逐次超鬆散法和行逐次超鬆散法解出非線性及線性方程組的近似解。最後利用 所得出的數值解討論通道長為1 微米和1.35微米電晶體的物理性質,包括臨界電壓和 穿透現象等等。我們根據數值結果和圖例證明了本文所描述的方法是可行的,並且可 以將它發展應用到實際的電晶體上。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject短通道zh_TW
dc.subject金氧半場效zh_TW
dc.subject電晶體zh_TW
dc.subject二維空間zh_TW
dc.subject數值方法zh_TW
dc.subject半導體zh_TW
dc.subject牛頓逐次趨鬆散法zh_TW
dc.subject行逐次超鬆散法zh_TW
dc.title短通道金氧半場效電晶體之二維空間數值分析zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department應用數學系所zh_TW
顯示於類別:畢業論文