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dc.contributor.author許孟烈en_US
dc.contributor.authorXu, Meng-Lieen_US
dc.contributor.author李崇仁en_US
dc.contributor.author沈文仁en_US
dc.contributor.authorLi, Chong-Renen_US
dc.contributor.authorShen, Wen-Renen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:04:03Z-
dc.date.available2014-12-12T02:04:03Z-
dc.date.issued1985en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT744430003en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/52687-
dc.description.abstract本篇論文描述了兩種故障模擬器……推導式故障摸擬器和同時式故障模擬器,我們建 構了一個在交換階層的推導式故障模擬器,並依做成同時式故障模擬器,它提供了節 點和電晶體的故障模型,並解決了電晶體故障在模擬過程中的偵測問題,最後,此故 障模擬器產生了一個故障辭典,它可以用來計算一個測試系列的故障函蓋率,並列出 每一個測試樣本所偵測到的故障。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject階層zh_TW
dc.subject故障zh_TW
dc.subject模擬器zh_TW
dc.subject故障模擬器zh_TW
dc.subject電子工程zh_TW
dc.subjectELECTRONIC-ENGINEERINGen_US
dc.title一個在交換階層的故障模擬器zh_TW
dc.titleA switch-level fault simulator (fmossim)en_US
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department電子研究所zh_TW
顯示於類別:畢業論文