標題: 超大型積體數位電路之故障模擬器
作者: 陳明德
CHEN, MING-DE
李崇仁
沈文仁
LI, CHONG-REN
SHEN, WEN-REN
電子研究所
關鍵字: 超大積體數位電路;故障模擬器;定值故障;傳輸閘;轉變延遲故障;序向電路;FAULT-SIMULATOR;STUCK-AT-FAULTS;TRANSMISSION-GATE;TRANSITION-DELAYFAULTS;SEQUENTIAL-CIRCUITS
公開日期: 1987
摘要: 在當前高科技電子的測試領域中,故障模擬器(Fault simulator )已成為一個不可 或缺的重要應用軟體,因此發展一個具有高效率的故障模擬器遂成為電腦輔助測試學 域的首要課題。 本篇論文即在陳述一個新式故障模擬器的原理、架構及其實驗結果。該模擬器乃針對 一超大型積體組合電路而設計,除可模擬傳統的定值故障(Stuck-at faults )及傳 輸閘(Transmission gate )故障,更引進了轉變延遲故障(Transition delay fa- ults)的觀念與模擬法則。該模擬器兼具順向模擬器的精確性與逆向評估器的快速性 --兩大特點。由實驗十個測試之標準範例電路中,可顯示該模擬器程式較一般傳統 之故障模擬器具有更高的效率。 本篇論文後則針對一般傳統之序向電路(Sequential circuits )提述定值故障的模 擬法則,同時亦發展出振盪控制的解決新法,並以實例為之說明與驗證。 此故障模擬器以C 語言寫成,並建立於SUN3 工作站的UNIX作業系統上。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT762430040
http://hdl.handle.net/11536/53426
顯示於類別:畢業論文