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dc.contributor.author陳明德en_US
dc.contributor.authorCHEN, MING-DEen_US
dc.contributor.author李崇仁en_US
dc.contributor.author沈文仁en_US
dc.contributor.authorLI, CHONG-RENen_US
dc.contributor.authorSHEN, WEN-RENen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:05:04Z-
dc.date.available2014-12-12T02:05:04Z-
dc.date.issued1987en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT762430040en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/53426-
dc.description.abstract在當前高科技電子的測試領域中,故障模擬器(Fault simulator )已成為一個不可 或缺的重要應用軟體,因此發展一個具有高效率的故障模擬器遂成為電腦輔助測試學 域的首要課題。 本篇論文即在陳述一個新式故障模擬器的原理、架構及其實驗結果。該模擬器乃針對 一超大型積體組合電路而設計,除可模擬傳統的定值故障(Stuck-at faults )及傳 輸閘(Transmission gate )故障,更引進了轉變延遲故障(Transition delay fa- ults)的觀念與模擬法則。該模擬器兼具順向模擬器的精確性與逆向評估器的快速性 --兩大特點。由實驗十個測試之標準範例電路中,可顯示該模擬器程式較一般傳統 之故障模擬器具有更高的效率。 本篇論文後則針對一般傳統之序向電路(Sequential circuits )提述定值故障的模 擬法則,同時亦發展出振盪控制的解決新法,並以實例為之說明與驗證。 此故障模擬器以C 語言寫成,並建立於SUN3 工作站的UNIX作業系統上。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject超大積體數位電路zh_TW
dc.subject故障模擬器zh_TW
dc.subject定值故障zh_TW
dc.subject傳輸閘zh_TW
dc.subject轉變延遲故障zh_TW
dc.subject序向電路zh_TW
dc.subjectFAULT-SIMULATORen_US
dc.subjectSTUCK-AT-FAULTSen_US
dc.subjectTRANSMISSION-GATEen_US
dc.subjectTRANSITION-DELAYFAULTSen_US
dc.subjectSEQUENTIAL-CIRCUITSen_US
dc.title超大型積體數位電路之故障模擬器zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department電子研究所zh_TW
顯示於類別:畢業論文