貫穿－短路－延遲校準標準的靈敏度分析和它的擴展至微波和毫米波單石積體電路的除錯

Abstract

本論文首先介紹基本的貫穿－短路－延遲（Through-Short-Delay） 校準理論，此理 論是應用於微波網路分析儀的校準。 當我們在做〞貫穿〞或〞延遲〞微波和毫米波的校準測量時，常需考慮到測試探針和 校準標準測量面間位置上的偏差，因此本論文就針對這些校準標準做靈敏度的分析。 從靈敏度的分析中，可以發現一些特點。應用這些特點，可以改進傳統TSD 校準理論 的缺點，並且發展一套新的〞取樣頻率〞TSD 理論。從電腦模擬的結果顥示，此〞取 樣頻率〞TSD 理論對毫米波網路分析儀的校準，或微波和毫米波單石積體電路的除錯 ，是一個相當好的指引。