N型GH0.8CD0.2TE材料生命期與AMBIPOLAR─MOBILITY的測量及SPRITE偵檢器的訊號分析

Abstract

本文主要係對N 型材料的過剩載子生命期與ambipolar mobility作研究。使用N 型材 料製成的紅外線光導偵檢器在不同反應波長的He-Ne 雷射（３．３９，０．６３２８ ）照射下，及在不同的工作溫度（５０°Ｋ∼２００°Ｋ）與背景強度之下測量N 型 材料的過剩載子生命期。同時利用在高電場的作用下光導偵檢器會發生SWEEP-OUT 效 應，藉此效應的發生可找出在不同背景強度之下N 型材料的ambipolar mobility。 在本文中同時也介紹一種由N 型材料製成的紅外線光導偵檢器－SPRITE，並且簡單地 建立SPRITE偵檢器的光點掃描工作模式；在時間域及頻率域上作訊號的定性分析。利 用此光點掃描工作模式也可估計出N 型材料的ambipolar mobility。 我們使用了波長０．６３２８及３．３９He－Ne雷射測量N 型材料的過剩載子生命期 τ，同時也在不同的工作溫度及不同的背景強度之下測量N 型材料的τ。由實驗結果 知 N型材料的生命期主要仍是受Auger 結合機構的影響。而在不同的背景強度之下， N 型材料的生命期亦會改變。當視野角越小，背景強度越弱時，生命期越長。此結果 與理論計算值及Mullard Co. 的結果相當一致。