完整後設資料紀錄
DC 欄位 | 值 | 語言 |
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dc.contributor.author | 劉大宏 | en_US |
dc.contributor.author | LIU, DA-HONG | en_US |
dc.contributor.author | 李建平 | en_US |
dc.contributor.author | 雷添福 | en_US |
dc.contributor.author | LI, JIAN-PING | en_US |
dc.contributor.author | LEI, TIAN-FU | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-12T02:05:24Z | - |
dc.date.available | 2014-12-12T02:05:24Z | - |
dc.date.issued | 1988 | en_US |
dc.identifier.uri | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT772123043 | en_US |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/53697 | - |
dc.description.abstract | 就砷化鎵金半場效電晶體(MESFET)的確實性和製程彈性而言,蕭特基接觸對砷化鎵 的熱穩定性是相當重要的。在本論文裡,研究了鎢、鉭、鉬、鎳和鈷金屬矽化物WSix ,TaSix ,M□Six ,NiSix 和C□Six 對砷化鎵之蕭特基特性以及它們的熱穩定性。 結果顯示在高溫下(>800℃),鎳、鈷和鉬金屬矽化物呈現熱不穩定性。鎢金屬 矽化物在X=2時,RBS分析顯示鎵或砷原子有向外擴散的現象,X=0.6時能 得到良好熱穩定蕭特基接觸。對鉭金屬矽化物我們做了一系列(0≦x≦2)之分析 ,RBS顯示在高溫退火處理後,含矽量較多的矽化物薄膜,鎵或砷原子向外擴散到 矽化物薄膜表面,含金屬量較高的矽化物薄膜有交互作用的現象,可能在矽化物和砷 化鎵界面形成金屬化合物。最穩定的蕭特基接觸是Ta□Si□,在退火處理溫度提高到 800℃時仍保持良好的Ta□Si□/GaAs 蕭特基接觸。 含矽量較高的矽化物薄膜,在高溫退火處理後,鎵原子向外擴散的現象,對於耐火金 屬均有此共同的特性。然而在矽化物表面上加蓋一層Si□N 或SiO□ 薄膜後,即可阻 止鎵原子向外擴散,只要布高溫退火處理後,金屬本身不和砷化鎵產生作用,就能保 持理想的蕭特基接觸。 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.subject | 砷化鎵 | zh_TW |
dc.subject | 蕭特基 | zh_TW |
dc.subject | 熱穩定性 | zh_TW |
dc.subject | 交互作用 | zh_TW |
dc.subject | 金半場效電晶體 | zh_TW |
dc.subject | ASGA | en_US |
dc.title | 金屬矽化物對砷化物對砷化鎵蕭特基接觸之研究 | zh_TW |
dc.type | Thesis | en_US |
dc.contributor.department | 光電工程學系 | zh_TW |
顯示於類別: | 畢業論文 |