Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.author林燕欽en_US
dc.contributor.authorLIN, YAN-QINen_US
dc.contributor.author任建葳en_US
dc.contributor.authorREN, JIAN-WEIen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:05:53Z-
dc.date.available2014-12-12T02:05:53Z-
dc.date.issued1988en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT772430068en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/53938-
dc.description.abstract在很多應用方面(如影像處理,數位訊號處理和科學應用等),尤其是在須要處理大 量資料和講求快速運算的應用方面,超大型積體電路陣列(VLSI Array)是一個最有 效,最經濟的選擇。當我們設計超大型積體電路陣列時,切割(Partition) 是一個 非常重要的工作。有很多學者提出陣列的切割方法,我們將之歸納且分為三類:(1 )Chip切割法,(2)演算切割法(Algorithm Partition)和(3)陣列切割法( Array Partition)。第一和第二種方法仍有其缺點。第三種方法又可分成(A)在關 係圖(Dependent Graph)上之切割(B)直接在陣列上之切割。在陣列上之切割方法 尚無一套有系統之切割方法,故我們的研究重點乃在於提出一套有系統的切割方法。 在陣列上作切割基本上有兩種方法:(1)合併法(Coalescent)(2)切疊法( Cut-and-Pile)。根據合併法的基本觀念,我們提出一套有系統的切割方法,且已經 用C 語言在SUN 工作站上面將此套方法寫成程式。它可將任何演算法之陣列切割成任 何較小之陣列,且可作二次投影(Double Projection) 之功能。在程式中,我們也 對切割後的陣列作模擬(Simulation),並求出此陣列的最大計算時間(Latency) 。 除了提出此套有系統的方法之外,我們也討論了切割的一些副作用,包括:降低計算 速度,硬體複雜性的增加與額外的負擔,處理元件(Processing Element)的控制問 題等。至於怎樣的切割方法才可得到最佳的計算速度?我們也推導出此計算時間( Latency) 的下限。最後我們也討論了用一個固定大小的陣列來模擬(Emulate) 任 何大小陣列的方法。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject超大型積體電路zh_TW
dc.subject積體電路zh_TW
dc.subject陣列zh_TW
dc.subject切割zh_TW
dc.subjectVLSIen_US
dc.subjectARRAYen_US
dc.subjectPARTITIONen_US
dc.title超大型積體電路陣列的切割方法zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department電子研究所zh_TW
Appears in Collections:Thesis