標題: 以傾斜安置電荷耦合陣列感光元件加強色散光譜分析
作者: 李明忠
LI,MING-ZHONG
謝正雄
XIE,ZHENG-XIONG
光電工程學系
關鍵字: 傾斜;電荷耦合感光元件;色散;光譜;解析;雙色法;灰體放射率;(C.C.D.);N×N
公開日期: 1989
摘要: 本文主要以理論,分析如何使用光學系統、傾斜式N×N,N 為自然數,像元之電荷耦 合感光元件(C.C .D .),量測(1) 黑體溫度(2) 灰體放秧射率及解析(3) 一維光譜強 度。以往N×N,維C.C.D.所能測得之光譜強度分布,乃根據所得之N 個響應值,經回 復濾鏡後,以得到與原光譜強度成比例之分布。然此法對光譜解析力相當差。欲在局 部範圍內光譜解析的能力,可利用以相同之元件,置于所設定之座標系統並將之旋轉 一角度後,可得N 極精準光譜強度值,大大提高了C.C.D.對光譜強度比值,便可約略 測得此黑體之溫度, 此即所謂雙色法。然利用傾斜式N×N,維C.C.D.,可測得N 個不 同之放射波長下之光譜強度,故可比變色法得更準確之黑體溫度。至於灰體放射率分 布,乃根據灰體與黑體之相同估計光譜強度所求得。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT782123006
http://hdl.handle.net/11536/54330
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