以傾斜安置電荷耦合陣列感光元件加強色散光譜分析

Abstract

本文主要以理論，分析如何使用光學系統、傾斜式N×N，N 為自然數，像元之電荷耦 合感光元件(C.C .D .)，量測(1) 黑體溫度(2) 灰體放秧射率及解析(3) 一維光譜強 度。以往N×N，維C.C.D.所能測得之光譜強度分布，乃根據所得之N 個響應值，經回 復濾鏡後，以得到與原光譜強度成比例之分布。然此法對光譜解析力相當差。欲在局 部範圍內光譜解析的能力，可利用以相同之元件，置于所設定之座標系統並將之旋轉 一角度後，可得N 極精準光譜強度值，大大提高了C.C.D.對光譜強度比值，便可約略 測得此黑體之溫度, 此即所謂雙色法。然利用傾斜式N×N，維C.C.D.，可測得N 個不 同之放射波長下之光譜強度，故可比變色法得更準確之黑體溫度。至於灰體放射率分 布，乃根據灰體與黑體之相同估計光譜強度所求得。