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dc.contributor.author楊景翔en_US
dc.contributor.authorYANG,JING-XIANGen_US
dc.contributor.author李崇仁en_US
dc.contributor.authorLI,CHONG-RENen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:07:16Z-
dc.date.available2014-12-12T02:07:16Z-
dc.date.issued1989en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT782430098en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/54708-
dc.description.abstract在本論文中,吾人發展了一套階層式的測試圖樣產生系統。 此階層式測試圖樣產生系統主要包含兩個階段: 在第一階段,吾人先對待測線路中之個別模組做區域性測試以求得區域性測試圖樣表 。此區域性測試圖樣表之產生乃利用傳統之閘階級測試圖樣產生器對個別模組中之目 標障礙做測試。先產生此個別模組之測試圖樣,然後將此測試圖樣做轉換處理。此轉 換處理包含三個部份,第一部份先以‘0’或‘1’取代區域性測試圖樣中之‘X’ 。第二部份再將此不含‘X’之區域性測試圖樣輸入此個別模組,利用一閘階級之障 礙模擬器分別模擬出此個別模組在有障礙及無障礙狀態下之輸出響應。第三部份則將 這些二進位之輸入及輸出值根據線路中之排線特性轉換成相對之十進位值。此區域性 測試圖樣表做為第二階段高階層次測試的基本資訊。 第二階段為一高階層次測試圖樣產生器,利用第一階段產生的區域性測試圖樣表及待 測線路在高階層次所具備之知識,完全在高階層次對整個線路做測試。此階段不涉及 低階層次結構。 當在第二階段無法產生測試圖樣時,系統即將整個待測線路展開成閘級結構,在低階 層次產生測試圖樣。 此系統已被用以測試一些線路,實驗結果顯示此種階層式測試圖樣產生方法具備有下 列優點:較高之偵錯效率、較快之偵錯速度、較快測得冗餘障礙及難測障礙。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject測試圖樣產器zh_TW
dc.subject個別模組zh_TW
dc.subject目標障礙zh_TW
dc.subject轉換處理zh_TW
dc.subject排線特性zh_TW
dc.subject十進位值zh_TW
dc.subject閘級結構zh_TW
dc.title一階層式測試圖樣產生器zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department電子研究所zh_TW
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