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dc.contributor.author王伯剛en_US
dc.contributor.authorWANG,BO-GANGen_US
dc.contributor.author陸懋宏en_US
dc.contributor.authorLU,MAO-HONGen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:08:10Z-
dc.date.available2014-12-12T02:08:10Z-
dc.date.issued1990en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT792124023en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/55211-
dc.description.abstract紅外顯微鏡主要是用來觀察積體電路元件工作時的發熱狀況,是積體電路生產的一種 非常有效的檢驗工具,也被廣泛的應用在許多領域,包括材料、醫療、生物等方面。 這篇論文內容包括一般光學顯微鏡的設計方法、十倍和二十倍紅外顯微物鏡的設計方 法和結果以及光學設計程式的使用方法。 首先我們要決定用幾面透鏡來設計,再利用匹配原理來消除球差和彗差。從而穫得透 鏡的初始參數。再適當的選定雙數和加權指數作最佳化(Optimization)的計算, 直 到穫得我們所需要的結果為止。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject紅外光學zh_TW
dc.subject顯微鏡zh_TW
dc.subject紅外顯微鏡zh_TW
dc.subject積體電路元件zh_TW
dc.subject發熱狀況zh_TW
dc.subject檢驗工具zh_TW
dc.subject材料zh_TW
dc.subject醫燎zh_TW
dc.title紅外光學顯微鏡的射計zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department光電工程學系zh_TW
顯示於類別:畢業論文