完整後設資料紀錄
DC 欄位 | 值 | 語言 |
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dc.contributor.author | 王伯剛 | en_US |
dc.contributor.author | WANG,BO-GANG | en_US |
dc.contributor.author | 陸懋宏 | en_US |
dc.contributor.author | LU,MAO-HONG | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-12T02:08:10Z | - |
dc.date.available | 2014-12-12T02:08:10Z | - |
dc.date.issued | 1990 | en_US |
dc.identifier.uri | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT792124023 | en_US |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/55211 | - |
dc.description.abstract | 紅外顯微鏡主要是用來觀察積體電路元件工作時的發熱狀況,是積體電路生產的一種 非常有效的檢驗工具,也被廣泛的應用在許多領域,包括材料、醫療、生物等方面。 這篇論文內容包括一般光學顯微鏡的設計方法、十倍和二十倍紅外顯微物鏡的設計方 法和結果以及光學設計程式的使用方法。 首先我們要決定用幾面透鏡來設計,再利用匹配原理來消除球差和彗差。從而穫得透 鏡的初始參數。再適當的選定雙數和加權指數作最佳化(Optimization)的計算, 直 到穫得我們所需要的結果為止。 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.subject | 紅外光學 | zh_TW |
dc.subject | 顯微鏡 | zh_TW |
dc.subject | 紅外顯微鏡 | zh_TW |
dc.subject | 積體電路元件 | zh_TW |
dc.subject | 發熱狀況 | zh_TW |
dc.subject | 檢驗工具 | zh_TW |
dc.subject | 材料 | zh_TW |
dc.subject | 醫燎 | zh_TW |
dc.title | 紅外光學顯微鏡的射計 | zh_TW |
dc.type | Thesis | en_US |
dc.contributor.department | 光電工程學系 | zh_TW |
顯示於類別: | 畢業論文 |