標題: 類比數位轉換器之動態特性測試
Dynamic performance testing of A/D converters
作者: 童恆進
TONG, HENG-JIN
黃宇中
HUANG, YU-ZHONG
電子研究所
關鍵字: 類比數位;轉換器;動態特性測試
公開日期: 1991
摘要: 近年來,由於半導體科技與電路設計技術快速的進步,類比數位轉換器的解析度愈 來愈高且速度也愈來愈快。然而其動態測試的技術發展至今也不過才十餘年而已, 因此它發展得尚不完整而且只有少數的人真正的了解它。 在本論文中,我們建立了一套以個人電腦為基礎的測試系統。其中快速的邏輯分析 儀是用來抓取資料且充當暫時的資料儲存單元,而各儀器之間資料的傳遞是使用 IEEE-488匯流排來當做共同的介面標準。在此我們討論了四種動態測試的技術而且 將它們用來實際地測試和分析了兩個類比數位轉換器的動態特性。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT802430020
http://hdl.handle.net/11536/56051
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