Full metadata record
DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 陳明宇 | en_US |
dc.contributor.author | CHEN, MING-YU | en_US |
dc.contributor.author | 李崇仁 | en_US |
dc.contributor.author | LI, CHONG-REN | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-12T02:09:29Z | - |
dc.date.available | 2014-12-12T02:09:29Z | - |
dc.date.issued | 1991 | en_US |
dc.identifier.uri | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT802430049 | en_US |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/56083 | - |
dc.description.abstract | 本篇論文中,我們提出一種可測試冗餘定值故障的新測試方法。這種測試方法所使 用的測試圖樣稱為雜波測試圖樣。此種測試方法與傳統測試方法不同之處在於所覯 察的不是穩態邏輯值而是雜波邏輯值。 我們提出一些有關雜波測試圖樣故障模擬和雜波測試圖樣產生的理論,然後以這些 理論為基礎來撰寫故障模擬器和雜波測試圖樣產生器的程式。理論及實驗結果均顯 示了使用雜波測試圖樣可改善故障涵蓋率;這是由於雜波測試圖樣可以偵測到:( 一)冗餘定值故障,(二)額外的定值故障。 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.subject | 雜波測試 | zh_TW |
dc.subject | 圖樣測試 | zh_TW |
dc.subject | 定值故障 | zh_TW |
dc.title | 以雜波測試圖樣測試定值故障 | zh_TW |
dc.title | Stuck-at falut testing by hazard tests | en_US |
dc.type | Thesis | en_US |
dc.contributor.department | 電子研究所 | zh_TW |
Appears in Collections: | Thesis |